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纳米级系统芯片单粒子效应研究书籍详细信息
- ISBN：9787030673282
- 作者：暂无作者
- 出版社：暂无出版社
- 出版时间：2021-11
- 页数：191
- 价格：77.39
- 纸张：胶版纸
- 装帧：平装
- 开本：16开
- 语言：未知
- 丛书：暂无丛书
- TAG：暂无
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
内容简介：
《纳米级系统芯片单粒子效应研究》主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应，内容包括 SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征；定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。
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其它内容：
书籍介绍
《纳米级系统芯片单粒子效应研究》主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应，内容包括 SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征；定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。
书籍真实打分
故事情节：7分
人物塑造：5分
主题深度：3分
文字风格：8分
语言运用：9分
文笔流畅：4分
思想传递：4分
知识深度：4分
知识广度：9分
实用性：9分
章节划分：9分
结构布局：6分
新颖与独特：6分
情感共鸣：5分
引人入胜：9分
现实相关：7分
沉浸感：4分
事实准确性：6分
文化贡献：6分
网站评分
书籍多样性：8分
书籍信息完全性：4分
网站更新速度：5分
使用便利性：8分
书籍清晰度：4分
书籍格式兼容性：3分
是否包含广告：3分
加载速度：9分
安全性：9分
稳定性：5分
搜索功能：3分
下载便捷性：3分
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